集成X射线电离功能的通用扫描电迁移率粒径谱仪
适用于8-1200 nm的各种应用
PALAS设备U-SMPS 2050X/ 2100 X / 2200 X
PALAS设备U-SMPS通用扫描电迁移率粒径谱仪
Palas@通用扫描电迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X/2100X / 220O型号)可以确定8至1200 nm的粒径分布。该系列已经集成了X射线源作为中和器（参见图1)，代替放射性中和器（例如使用Kr-85〉，优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。
PalasRU-SMPS系统包括一个分级器[在ISO15900中定义为电迁移率分级器(DEMC)，也称为微分迁移率分析仪(DMA)]，可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。
冷凝颗粒计数器（例如UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC型号可在各种浓度范围内实现很好的单颗粒计数。Palas使用了由Wiedensohler教授〈(IfTLeipzig，德国）开发的演算算法，将测量数据转化为U-SMPS的颗粒分布。
U-SMPS使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短30秒之内执行，并且每十进制多达128个尺寸通道。在扫描期间，DEMC分级器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估(各种统计和平均值)，以及导出功能。
U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以连接到计算机或使用各种接口(USB，LAN，WLAN，RS-232/485)连接网络。PalasRU-SMPS支持DMA，CPC和其他制造商的气溶胶静电计。
U-SMPS对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要，尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并且必须内部组装。
图2∶给出了U-SMPS的工作原理:气溶胶在进入分级器（DEMC)之前先经过调节。选配的干燥器（例如硅胶，Nafion)可以去除颗粒中的水分。双极中和剂(RC 049)用于确保气溶胶电荷分布符合预定。在DEMC的入口处需要一个撞击器以去除大于分级器尺寸范围的颗粒。
气溶胶通过DEMC柱的进样口导入，沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流，确保层流。电极的表面必须极其光滑和。
该鞘气是干燥的、无颗粒的载气(通常为空气)，比气溶胶的体积大，且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率，从而决定尺寸分级器的分辨率。
在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电，末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会通过顶部小缝隙离开DEMCo
在操作中，电压产生的电场持续变化，使得不同迁移率的颗粒离开DEMC，并由纳米粒子计数器（例如冷凝粒子计数器）连续测量计数（例如Palas R UF-CPC)。
方便实用的软件提供多数据信息（如电压，粒子数等）并取得粒径分布数据，如图3所示。
基于客户反馈优化过的用户界面和软件可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数
此外，通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络连接，该软件可以实现数据管理功能。测量数据有多种形式显示和评估。
优点：
·粒径分布范围为8nm至1.2um
·7英寸触摸屏和GUI直观操作
·连续快速扫描测量原理
·内置数据记录仪
·高分辨率，zui多128个尺寸通道/十进制
·支持多种接口和远程访问
·适用于zui高108颗粒/cm3的浓度
·低维护
·跟其他制造商的DMA和纳米颗粒计数器通用
·功能可靠
·图形显示测量结果
·减少您的运营费用
数据表
参数说明 描述
接口 USB,LAN, AUX, RS-232(CPC)
测量范围(尺寸) 8-1,200nm
尺寸通道 zui多256个(128个/十进制)
测量范围(数量浓度) 0- 108颗粒/cm3
用户界面 触摸屏，800x480分辨率，7”
数据存储 4GB
软件 PDAnalyze
调节范围（电压) 1-10,000 V(上行和下行)
体积流量（鞘气) 2.5-14L/分钟
安装条件 10-30°C
中和器 XRC 049
气溶胶体积流量 0.5-3L/分钟
应用领域
·过滤测试
·气溶胶研究
·环境与气候研究
·吸入实验